ભારમાપક પૃથક્કરણ

(Gravimetric Analysis)

માત્રાત્મક વિશ્લેષણ(quantitative analysis)નો એક પ્રકાર, જેમાં ઇચ્છિત ઘટક(તત્વ કે સમૂહ)ને સામાન્ય રીતે અવક્ષેપન (precipitation) દ્વારા શક્ય તેટલા શુદ્ધ સંયોજન રૂપે મેળવી તેને શુષ્ક બનાવી, તેનું વજન કરવામાં આવે છે. કોઈ કોઈ કિસ્સામાં એવું સંયોજન કે તત્વ પણ ઉદભવે છે કે જેમાં ઇચ્છિત તત્વ ન હોય, પણ ઉદભવેલ ઘટક તેની સાથે ચોક્કસ ગાણિતિક સંબંધ ધરાવતો હોય. દરેક રીતમાં અવક્ષેપના વજન અને સંઘટન પરથી ઇચ્છિત ઘટકનો જથ્થો નક્કી કરી શકાય છે.

દ્રવ્યના કોઈ પણ હિસ્સાની સંપૂર્ણ રાસાયણિક લાક્ષણિકતા નક્કી કરવા માટે તેને લગતી ગુણાત્મક (qualitative – તેમાં કયા ઘટકો હાજર છે તે) અને જથ્થાત્મક અથવા માત્રાત્મક (quantitative – કયો ઘટક કેટલા પ્રમાણમાં હાજર છે તે) માહિતી ઉપલબ્ધ હોવી જરૂરી છે.

સામાન્ય રીતે માત્રાત્મક વૈશ્લેષિક પદ્ધતિઓનું વર્ગીકરણ તેમાં માપવામાં આવતી ભૌતિક રાશિના પ્રકાર પર આધારિત હોય છે. આવી પદ્ધતિઓને સામાન્ય રીતે ચાર સમૂહમાં વહેંચી શકાય : (i) ભારમાપક (ભારમિતીય) (gravimetric), (ii) કદમાપક (કદમિતીય) (volumetric), (iii) પ્રકાશિક (optical) અને (iv) વિદ્યુતમિતીય (electrometric).

ભારમાપક નિર્ધારણ(determination)માં ઇચ્છિત ઘટકને યોગ્ય સ્વરૂપમાં (જ્ઞાત ટકાવારીવાળું બંધારણ ધરાવતા સંયોજન રૂપે) અલગ પાડવામાં આવે છે અને ઘણુંખરું આ સ્વરૂપમાં તેનું ચોકસાઈપૂર્વક વજન કરવામાં આવે છે. આવી પદ્ધતિઓનું ઉપવિભાજન અવક્ષેપન પદ્ધતિઓ, વીજનિક્ષેપન (electrodeposition) પદ્ધતિઓ અને બાષ્પીભવન (volatilization) પદ્ધતિઓમાં કરવામાં આવે છે.

કદમાપક પૃથક્કરણમાં કદનું માપન કરવામાં આવે છે. કદમાપક પદ્ધતિઓ પૈકીની અનુમાપની (titrimetric) પદ્ધતિઓમાં અજ્ઞાત ઘટક સાથે જ્ઞાત બંધારણ ધરાવતા પદાર્થના દ્રાવણની માત્રાત્મક પ્રક્રિયા થવા માટે જરૂરી કદ નોંધવામાં આવે છે. વાયુરૂપ મિશ્રણોનું વિશ્લેષણ જે તે વાયુના કદને માપીને કરવામાં આવે છે.

પ્રકાશિક પદ્ધતિમાં વિકીર્ણ (radiant) ઊર્જાની તીવ્રતા (intensity) કે તરંગલંબાઈ માપવામાં આવે છે. આવી પદ્ધતિઓનું વર્ગીકરણ અવશોષણ (absorption) પદ્ધતિઓ, ઉત્સર્જન (emission) પદ્ધતિઓ, વિવર્તન (diffraction) પદ્ધતિઓ અને વક્રીભવન (refraction) પદ્ધતિઓમાં કરવામાં આવે છે.

વિશ્લેષણની વિદ્યુતીય પદ્ધતિઓમાં કોઈ પણ એક મૂળભૂત વૈદ્યુત રાશિ, દા. ત., વોલ્ટેજ, વીજ-અવરોધ કે વીજપ્રવાહનું માપન કરવામાં આવે છે.

ભારમાપક પદ્ધતિઓનું વર્ગીકરણ વિશ્લેષણ માટે લેવામાં આવતા નમૂનાના પરિમાપ (size) અનુસાર પણ થાય છે. સામાન્ય રીતે 0.1 ગ્રા. કે તેથી વધુ વજનનો નમૂનો લેવામાં આવે તો તેવા વિશ્લેષણને સ્થૂળ વિશ્લેષણ (macro-analysis) કહે છે. જો નમૂનો 0.01થી 0.1 ગ્રા. હોય તો વિશ્લેષણને અર્ધસૂક્ષ્મ-વિશ્લેષણ (semi-micro-analysis) કહેવામાં આવે છે. જેમાં નમૂનાનું વજન 0.01 ગ્રા.થી ઓછું લેવામાં આવ્યું હોય તેવા વિશ્લેષણને સૂક્ષ્મવિશ્લેષણ (micro-analysis) અને જો નમૂનાનું વજન 0.001 ગ્રા. કરતાં ઓછું હોય તો તેને અતિસૂક્ષ્મ-વિશ્લેષણ (ultra-micro-analysis) કહે છે. સામાન્યપણે સ્થૂળ અને અર્ધસૂક્ષ્મ નિર્ધારણ માટે ભારમાપક પદ્ધતિઓ વધુ ઉપયોગી નીવડે છે.

નમૂનાનો જથ્થો તેમજ તેમાં ઇચ્છિત ઘટકનું પ્રમાણ, એ બંને, વિશ્લેષણ માટેની પદ્ધતિમાં અગત્ય ધરાવે છે. નમૂનામાં ઇચ્છિત ઘટકનું પ્રમાણ 1 % કે તેથી વધુ હોય તો તેવા ઘટકને મુખ્ય (major) ઘટક કહેવામાં આવે છે. જો ઘટકનું પ્રમાણ 0.01 થી 1 % હોય તો તેને લઘુ કે ગૌણ (minor) અને જો તે 0.01 %થી ઓછું હોય તો તેને સૂક્ષ્મમાત્રિક (trace) ઘટક કહે છે. ઘણીખરી અનુમાપની અને ભારમાપક પદ્ધતિઓ મુખ્ય કે ગૌણ ઘટકોના નિર્ધારણ માટે ઉપયોગી છે (જોકે તેમાં અપવાદ હોઈ શકે). વૈદ્યુત અને વિકીર્ણ શક્તિ પદ્ધતિઓ સૂક્ષ્મમાત્રિક, ગૌણ કે મુખ્ય ઘટકોના વિશ્લેષણ માટે ઉપયોગી છે.

ભારમાપક પૃથક્કરણમાં બે વજનોને લક્ષમાં લેવામાં આવે છે – આપેલા નમૂનાનું અને તેના પર વિવિધ પ્રક્રિયાઓ કર્યા બાદ અંતે મળતા અને નમૂનાનો ઇચ્છિત ઘટક ધરાવતા અવક્ષેપનું વજન. કોઈ પણ ભારમાપક અલગન પદ્ધતિએ નીચેની ત્રણ શરતો સંતોષવી જરૂરી છે :

(અ) અલગન પ્રવિધિ (process) મહદ્ અંશે સંપૂર્ણ થવી જોઈએ, એટલે કે નમૂનામાંનો ઇચ્છિત ઘટક સંપૂર્ણપણે (માત્રાત્મક રીતે, quantitatively) અવક્ષિપ્ત થવો જોઈએ અને દ્રાવણમાં અવક્ષેપન પામ્યા વિના રહી ગયેલો ઘટક એટલા ઓછા પ્રમાણમાં હોવો જોઈએ કે વૈશ્લેષિક ર્દષ્ટિએ તેને પારખી ન શકાય (દા. ત., સ્થૂળ નમૂનામાંના મુખ્ય ઘટકનું માપન કરતી વખતે 0.1 મિગ્રા. કે તેથી ઓછો).

(આ) જેનું વજન કરવામાં આવતું હોય તે પદાર્થ (અવક્ષેપ) ચોક્કસ સંઘટન (composition) અને પૂરતી શુદ્ધિ ધરાવતો હોવો જોઈએ. અવક્ષેપ ઉદભવે ત્યારે તેમાં અન્ય કોઈ પણ દ્રવ્ય નોંધપાત્ર પ્રમાણમાં સમાવિષ્ટ થવું ન જોઈએ. જો આવું દ્રવ્ય રહી જાય તો અવક્ષેપને ધોવામાં આવે ત્યારે કે તેને શુષ્ક બનાવવામાં આવે ત્યારે તે દૂર થવું જોઈએ. જો આમ ન થાય તો ભૂલભરેલાં પરિણામો મળે છે.

(ઇ) અવક્ષેપનું ભૌતિક સ્વરૂપ યોગ્ય હોવું જોઈએ. અર્થાત્ અવક્ષેપિત કણોનું પરિમાપ એવું હોવું જોઈએ કે જેથી તેને માતૃદ્રાવણમાંથી ગાળીને અલગ કરી શકાય અને ગાળણ માધ્યમ(દા. ત., ગાળણપત્ર)માંથી તે પસાર થાય નહિ. અવક્ષેપ ત્રણ પ્રકારના હોય છે : સ્ફટિકમય, ગઠ્ઠિત (curdy) અને શ્લેષીય (gelatinous). આ ત્રણ પ્રકારનાં ર્દષ્ટાંતો અનુક્રમે બેરિયમ સલ્ફેટ, સિલ્વર ક્લોરાઇડ અને જલયુક્ત ફેરિક ઑક્સાઇડ છે. આ પૈકી ગાળણની ર્દષ્ટિએ બેરિયમ સલ્ફેટ વધુ યોગ્ય છે.

અવક્ષેપનું સંભવન (formation) અને તેને અસર કરતાં પરિબળો

ભારમિતીય પૃથક્કરણમાં અગત્યનો પ્રશ્ન શુદ્ધ અને ગાળણયોગ્ય (filterable) અવક્ષેપ મેળવવાનો છે. આમાં નીચેની બાબતો સંકળાયેલી છે. નાભિકન (કેન્દ્રીકરણ) (nucleation) અને સ્ફટિકવૃદ્ધિ (crystal growth). અવક્ષેપની ઉત્પત્તિ એ ભૌતિક તેમજ રાસાયણિક ઘટના છે, કારણ કે તેમાં બંને પ્રવિધિ સંકળાયેલી છે. ભૌતિક પ્રવિધિમાં નાભિકન અને સ્ફટિકવૃદ્ધિ એમ બે ઘટનાઓ સમાયેલી છે. નાભિકનમાં અતિસંતૃપ્ત દ્રાવણમાંથી અવક્ષેપના અતિસૂક્ષ્મ ઘન કણો ઉદભવે છે, જે સ્વયંભૂપણે વૃદ્ધિ પામી શકે છે. સ્ફટિકવૃદ્ધિમાં નાભિકિત અતિસૂક્ષ્મ કણોની સપાટી પર દ્રાવણમાંથી આયનોનું નિક્ષેપન થાય છે. આમ અવક્ષેપના કણનું પરિમાપ (size) અને કણોની સંખ્યા નાભિકનના તબક્કે ઉદભવતા નાભિકોની સંખ્યા પર અવલંબે છે.

ઉદભવતા નાભિકો(કેન્દ્રકો)ની સંખ્યા બે પરિબળો (factors) વચ્ચેની અન્યોન્યક્રિયા (interaction) પર આધાર રાખે છે : (i) નાભિક ઉદભવે તેની નિકટતમ પર્યાવરણમાં અતિસંતૃપ્તિની માત્રા, અને (ii) જે સ્થાનોએ નાભિકો ઉદભવી શકે તેવાં સ્થાનોની સંખ્યા અને તેમની અસરકારકતા.

અતિસંતૃપ્તિ એ એવી અલ્પસ્થાયી (transient) અવસ્થા છે કે જેમાં ઘન પ્રાવસ્થા (phase) સાથે સમતોલનમાં રહેલા દ્રાવણમાં અવક્ષેપિત થતા પદાર્થની સાંદ્રતા તેની સામાન્ય સંતુલન સાંદ્રતા કરતાં વધુ હોય છે. અતિસંતૃપ્તિની માત્રાની પ્રારંભિક અવક્ષેપન-વેગ પર થતી અસર વૉન વાઇમર્નના સમીકરણ વડે દર્શાવાય છે. આ ગાણિતિક સંબંધ મુજબ નાભિકન-સમયે ઉદભવતા નાભિકોની સંખ્યા સાપેક્ષ અતિસંતૃપ્તિ ના સીધા અનુપાતમાં હોય છે. (Q = અવક્ષેપનની શરૂઆત થાય તે ક્ષણે અવક્ષેપિત થનાર પદાર્થની વાસ્તવિક સાંદ્રતા; S = સંતૃપ્ત દ્રાવણમાં દ્રાવ્યની સંતુલન-સાંદ્રતા.)

100 મિલી. 1 x 10^–2M બેરિયમ ક્લોરાઇડ(BaCl₂)માં 1 મિલી. 1.0 M સોડિયમ સલ્ફેટ (Na₂SO₄) ઉમેરવામાં આવે અને બંને દ્રાવણ સંપૂર્ણપણે મિશ્ર થાય તો અવક્ષેપનની શરૂઆત પહેલાં Ba²⁺ અને બંને આયનોની સાંદ્રતા 1 x 10^–2ની સંનિકટ હોય છે. BaSO₄ની સંતુલન-દ્રાવ્યતા(s) આશરે 1 x 10^–5M હોઈ સાપેક્ષ અતિસંતૃપ્તિનું મૂલ્ય 1,000 થાય. જોકે સૌપ્રથમ જ્યાં 1 મિલી Na₂SO₄નું દ્રાવણ BaCl₂ સાથે સંસર્ગમાં આવે તે સ્થાને આયનોની સાંદ્રતા 1 x 10^–2Mથી ઘણી વધારે હોય છે અને તે લગભગ 1 M સંભવી શકે. તેથી Qનું ક્ષણિક મૂલ્ય  1 x 10^–1M જેટલું અને નું મૂલ્ય 10,000 જેટલું થાય. અતિસંતૃપ્તિની આ ક્ષણિક અવસ્થા દ્રાવણો મિશ્ર થતાં તથા અવક્ષેપનને કારણે દૂર થાય છે, પણ અવક્ષેપ-કણોના પરિમાપ ઉપર તેની અસર નોંધપાત્ર હોય છે. સામાન્ય રીતે અતિસંતૃપ્તિની માત્રા જેમ વધુ તેમ અવક્ષેપના એકાકી કણોનું પરિમાપ નાનું હોય છે. આથી અવક્ષેપ અતિ અલ્પદ્રાવ્ય હોય ત્યારે પ્રક્રિયક દ્રાવણો મિશ્ર થતી વખતે મંદ હોય તે જરૂરી છે; કારણ કે તેથી અવક્ષેપ મોટા સ્ફટિકરૂપે મળે છે. વળી અવક્ષેપન એવી પરિસ્થિતિમાં કરવું જોઈએ કે જેથી અવક્ષેપ અતિઅલ્પદ્રાવ્ય (અતિ અદ્રાવ્ય) ન બને. તટસ્થ માધ્યમ કરતાં ઍસિડી માધ્યમમાં બેરિયમ સલ્ફેટ (BaSO₄)ની દ્રાવ્યતા વધુ હોઈ ઍસિડ-માધ્યમમાં તેના અવક્ષેપ પાડવામાં આવે તો નું ક્ષણિક મૂલ્ય નીચું રહે છે. અવક્ષેપન સંપૂર્ણ થયા બાદ, અવક્ષેપને ગાળવા અગાઉ માતૃદ્રાવણને આંશિકપણે તટસ્થ કરવાથી દ્રાવ્યતાને કારણે આવતી BaSO₄ની ઘટને ઓછી કરી શકાય.

સ્વયંભૂ અને પ્રેરિત નાભિકન : સૈદ્ધાંતિક રીતે એ શક્ય છે કે અતિસંતૃપ્ત દ્રાવણમાં આયનોનો મોટો ગુચ્છ (cluster) પરસ્પર જોડાઈ નાભિક ઉત્પન્ન કરી શકે. આને સ્વયંભૂ નાભિકન કહે છે. જોકે વાસ્તવિક પરિસ્થિતિમાં પ્રેરિત નાભિકનની ઉપસ્થિતિ વધુ હોય છે. પ્રેરિત નાભિકનમાં આયનોના ગુચ્છ ઉદભવવાની પ્રારંભિક પ્રવિધિને દ્રાવણમાં રહેલાં કેટલાંક સ્થાનો સહાય કરે છે. આવાં સ્થાનો આગળ આયનો આકર્ષિત થાય છે અને આ સ્થાનો આયનોને જાળવી રાખે છે. એક ઘન પદાર્થને અનુલક્ષીને અતિસંતૃપ્ત હોય તેવા દ્રાવણમાં તે ઘનના કણો ઉમેરવાથી વધુ અવક્ષેપન થવા માંડે છે. અન્ય કણો કે પૃષ્ઠો પણ નાભિકન-સ્થાનો તરીકે વર્તી શકે. અવક્ષેપન જેમાં થતું હોય તેવાં પાત્રોની સપાટી પણ આવાં સ્થાનો પૂરી પાડી શકે. કલિલ કણોની હાજરી પણ નાભિકોની સંખ્યાને અસર કરે છે.

નાભિકન-સ્થાનો પર આયનોને જાળવી રાખનારું પરિબળ મુખ્યત્વે વિદ્યુતીય છે. પણ અધિશોષણ-બળો પણ તે માટે જવાબદાર હોય છે. BaSO4 વડે અતિસંતૃપ્ત હોય તેવા દ્રાવણમાં Ba²⁺, Cl^–, Na⁺ અને SO₄^2- જેવા આયનોની હાજરી હોય છે. ઋણ વીજભારિત પૃષ્ઠ ધન વીજભારિત કણોને આકર્ષે છે. વળી તે Na⁺ કરતાં Ba²⁺ આયનોને વધુ આકર્ષે છે (પ્રથમ અધિશોષિત સ્પીસીઝ). આ અધિશોષિત ધન આયનોનો સમૂહ ઋણ આયનોને (Cl^– કરતાં દ્વિવીજભારિત SO₄^2- ને વધુ પ્રમાણમાં) આકર્ષશે (દ્વિતીય અધિશોષિત સ્પીસીઝ). જો શરૂનું નાભિકન-સ્થાન ધન વીજભારિત હોય તો તેને અનુરૂપ પરિસ્થિતિ પ્રવર્તે છે. આમ કેન્દ્રક ઉપસ્થિત થવાની કાર્યક્ષમતા તે કેન્દ્રકના દ્રાવણમાંના આયનો પૈકી વિશિષ્ટ આયન પરત્વેના (અવક્ષેપિત કરવાના) આકર્ષણ તેમજ દ્રાવણના આયૉનિક બંધારણ પર આધાર રાખે છે. જો સ્થાન કાર્યક્ષમ હોય તો અતિસંતૃપ્તિની ઓછી માત્રાની જરૂર પડે છે.

સ્ફટિકવૃદ્ધિની પ્રવિધિ : એક વખત નાભિક ઉત્પન્ન થાય તે પછી સ્ફટિકવૃદ્ધિમાં બે તબક્કા સંકળાયેલા હોય છે : વૃદ્ધિ પામતા સ્ફટિકના પૃષ્ઠ પર આયનોનું પ્રસરણ અને તેમનું નિક્ષેપન. આ બે પરિબળો સ્ફટિકવૃદ્ધિના વેગને સીમિત બનાવે છે. પ્રસરણવેગ આયનોની પ્રકૃતિ, સાંદ્રતા, દ્રાવણને હલાવવાનો વેગ તેમજ દ્રાવણના તાપમાન પર આધારિત હોય છે. આયનોનો નિક્ષેપનવેગ સાંદ્રતા, પૃષ્ઠ પર અશુદ્ધિની હાજરી અને સ્ફટિકની વૃદ્ધિની લાક્ષણિકતા પર અવલંબે છે. સ્ફટિકની બધી બાજુઓ પર સ્ફટિકની વૃદ્ધિ એકસમાન ન હોવાથી અવક્ષેપનપદ્ધતિમાં એકંદરે સ્ફટિકો પરિપૂર્ણ (perfect) ભૌતિક આકાર ધરાવતા હોતા નથી. સ્ફટિકની કેટલીક બાજુઓ પર વૃત્તિક વૃદ્ધિ થવાથી પ્લેટ રૂપે કે શલાકા સ્વરૂપે સ્ફટિકો ઉદભવે છે. સ્ફટિકના છેડા પર કે ખૂણાઓ આગળ વૃત્તિકવૃદ્ધિ સંભવે તો સ્ફટિકો અનિયમિત શાખાયુક્ત સ્વરૂપે ઉદભવે છે. આવા સ્ફટિકોને વૃક્ષસમ (દ્રુમાકૃતિક) (dendritic) સ્ફટિકો કહે છે. અન્ય બાહ્ય આયનોની અવક્ષેપિત કણોના આકાર પર નોંધપાત્ર અસર થાય છે, કારણ કે આ આયનો અધિશોષિત થઈ સ્ફટિકની કેટલીક બાજુઓ પર વૃદ્ધિને સહાય કરે છે કે અવરોધે છે.

અવક્ષેપનની પૂર્ણતા : અવક્ષેપનની સંપૂર્ણતા એ અવક્ષિપ્ત થતા સંયોજનની ગાળણ અને પ્રક્ષાલન વખતની પ્રાયોગિક પરિસ્થિતિમાં સંતુલનદ્રાવ્યતા દ્વારા નિર્ણીત થાય છે. અવક્ષેપને ગાળવામાં આવે ત્યાં સુધી જો અતિસંતૃપ્તિ પ્રવર્તે તો અતિસંતૃપ્તિની ગેરહાજરી કરતાં અલગન ઓછું સંપૂર્ણ બને છે. મૅગ્નેશિયમ એમોનિયમ ફૉસ્ફેટ જેવા સાધારણ દ્રાવ્ય પદાર્થોના કિસ્સામાં અવક્ષેપ ઉદભવે તે પછી તરત જ તેને ગાળી લેવામાં આવે તો અતિસંતૃપ્તિને કારણે દ્રાવ્યતા-ઘટ ઉદભવે; પરંતુ જો ગાળતાં પહેલાં અવક્ષેપનું પક્વન કરવામાં આવે તો આ ઘટ દૂર થાય છે. દ્રાવણમાં થોડા પ્રમાણમાં ઘન પદાર્થની હાજરીથી, દ્રાવણને હલાવવાથી કે પાત્રની દીવાલો ઉપરના બારીક ઉઝરડાને કારણે પણ અતિસંતૃપ્તિ દૂર થાય છે.

સમાન આયન-અસર એ અવક્ષેપની સંતુલન-દ્રાવ્યતા પર અસર કરનાર એક અગત્યનું પરિબળ છે. અવક્ષેપન-પદ્ધતિમાં સામાન્ય રીતે અવક્ષેપક આધિક્યમાં ઉમેરવામાં આવતો હોવાથી સમાન આયનના આધિક્યમાં અવક્ષેપની દ્રાવ્યતા ઘટે છે. જોકે સમાન આયનની અતિ ઉચ્ચ સાંદ્રતાએ સંકીર્ણોની ઉત્પત્તિને કારણે અવક્ષેપની દ્રાવ્યતા વધે છે.

અવક્ષેપની દ્રાવ્યતા ઘટાડવામાં સમાન આયન-અસરને કારણે મળતો ફાયદો અવક્ષેપને યોગ્ય દ્રાવક વડે સાફ કરવાની પ્રવિધિમાં દૂર થાય છે. અવક્ષેપને સાફ કરવા માટે વપરાતા પ્રવાહીમાં અબાષ્પશીલ વિદ્યુત-વિભાજ્યની કે અવક્ષેપ સાથે સમાન હોય તેવા આયનની હાજરી ઇચ્છનીય ગણવામાં આવતી નથી. અવક્ષેપને સાફ કરવા માટેના પ્રવાહીની અવક્ષેપ સાથેની અવસંતૃપ્તિ(under–saturation)ને કારણે અવક્ષેપમાં ઘટ ઓછી આવે છે.

અવક્ષેપની સાંદ્રતા પર અસર કરતું બીજું પરિબળ ‘વિભિન્ન આયન અસર’ (diverse ion effect) છે. દ્રાવ્યતા-ગુણાકાર એ આયનોની સાંદ્રતા પર નહિ, પરંતુ તેમની સક્રિયતા પર અવલંબે છે. દ્રાવણની એકંદર આયન-સાંદ્રતા વધવાથી સક્રિયતા-ગુણાંક(activity coefficient)નું મૂલ્ય એકથી ઓછું થાય છે (< 1). આથી અવક્ષેપના આયનો સાથે સમાન ન હોય એવા આયનોની દ્રાવણમાં હાજરી હોય તો અવક્ષેપની સંતુલન દ્રાવ્યતામાં વધારો થાય છે.

દ્રાવ્યો(solutes)ની પાણીમાં દ્રાવ્ય થવાની પ્રક્રિયા ઉષ્માશોષક (endothermic) છે અને તેથી તાપમાનમાં વધારો થવાથી દ્રાવ્યતા ગુણાકાર અચળાંકનું મૂલ્ય વધે છે. દ્રાવકની પ્રકૃતિ પર પણ અવક્ષેપની સંતુલન-દ્રાવ્યતા આધાર રાખે છે. ઘણાખરા અકાર્બનિક અવક્ષેપો આયૉનિક ઘન દ્રવ્યો હોવાથી તેઓ પાણી જેવા ધ્રુવીય દ્રાવકમાં કાર્બન ટેટ્રાક્લોરાઇડ જેવા બિનધ્રુવીય દ્રાવક કરતાં વધુ દ્રાવ્ય છે. વળી પાણીને બદલે અન્ય દ્રાવક વાપરીને ઇચ્છિત પદાર્થની દ્રાવ્યતા ઘટાડવામાં આવે તો સાથોસાથ વિવિધ અશુદ્ધિઓની દ્રાવ્યતા પણ ઘટે છે. આમ અવક્ષેપની દ્રાવ્યતા ઘટાડીને વધુ શુદ્ધ અવક્ષેપ મળી શકતા નથી.

કલિલી અવસ્થા (colloidal state) : એક પ્રાવસ્થા(phase)ના અન્ય પ્રાવસ્થામાંના પરિક્ષેપનને કલિલી અવસ્થા કહે છે. ભારમાપક વિશ્લેષણમાં મુખ્યત્વે ઘન કણોનું દ્રાવણ પ્રાવસ્થામાં પરિક્ષેપણ અગત્ય ધરાવે છે; જેમ કે, અવક્ષેપિત દ્રવ્યનું માતૃદ્રાવણમાં પરિક્ષેપણ. કલિલી અવક્ષેપના કણોનો વ્યાસ આશરે 1 x 10^–7થી 2 x 10^–5 સેમી. હોય છે. ગાળણક્રિયા દરમિયાન અવક્ષેપ કલિલ-સ્વરૂપે હોય તે ઇચ્છનીય નથી, કારણ કે આ કણો એટલા બારીક હોય છે કે સામાન્ય ગાળણપત્રમાંથી તે પસાર થઈ જાય છે. કલિલના બે ગુણધર્મો – સ્થાનિક વીજભારિત સપાટી અને એકમ દળદીઠ ઘણું ઊંચું ક્ષેત્રફળ – અવક્ષેપની શુદ્ધતાને અસર કરે છે અને નિયંત્રિત કરે છે.

વિશ્લેષણ રસાયણમાં અગત્ય ધરાવતા ઘણા અકાર્બનિક પદાર્થો આયનિક ઘન પદાર્થો છે. તેઓ કેટાયનો અને એનાયનોની વિશિષ્ટ સંરચનાત્મક ગોઠવણી ધરાવે છે. આયનોની આવી નિયમિત (regular) ગોઠવણીને સ્ફટિક જાલક (crystal lattice) કહે છે. સિલ્વર ક્લોરાઇડ (AgCl)ના ઘન સ્ફટિકમાં સિલ્વર (Ag⁺) અને ક્લોરાઇડ (Cl^–) આયનોનાં પરિમાપ જુદાં જુદાં હોય છે અને આયનિક ત્રિજ્યાના સંદર્ભમાં આ આયનો વચ્ચેનું અંતર ઘણું ઓછું હોય છે. સ્ફટિકના અંત:સ્થ ભાગ(interior)માં પ્રત્યેક Cl^– આયનની આસપાસ Ag⁺ના છ આયનો હોઈ પ્રત્યેક અંત:સ્થ આયન ર્દઢ રીતે સ્થાયી (fixed) હોય છે. જોકે સ્ફટિકના ફલક (face) પરનો પ્રત્યેક Cl^– આયન પાંચ Ag⁺ આયનો અને પ્રત્યેક Ag⁺ આયન ફક્ત પાંચ Cl^– આયનો સાથે સંકળાયેલો હોઈ ફલક પરના Cl^– અને Ag⁺ આયનો અવશેષી (અનુક્રમે ઋણ અને ધન) વીજભાર ધરાવી શકે. સ્ફટિકની ધાર પર રહેલો આયન વિરુદ્ધ વીજભાર ધરાવતા ફક્ત ચાર પડોશીઓ, જ્યારે ખૂણા પર આવેલો આયન આવા ફક્ત ત્રણ પડોશીઓ ધરાવે છે. આમ સ્ફટિકની ધારો પર અને ખૂણાઓ પર અવશેષી વીજભારવાળાં કેન્દ્રો વધુ સ્પષ્ટ હોય છે. આ રીતે સ્ફટિક પૃષ્ઠ એકંદરે વૈદ્યુત-તટસ્થ (ધન અને ઋણ કેન્દ્રોની સમાન સંખ્યા) હોવા છતાં તે સ્થાનીયિત વીજભારિત કેન્દ્રો ધરાવે છે.

પૃષ્ઠ-ક્ષેત્રફળ અને દળના ગુણોત્તરના ઉચ્ચમૂલ્યની લાક્ષણિકતાને કારણે કલિલ-રસાયણમાં પૃષ્ઠ-અસરો ઘણી અગત્ય ધરાવે છે. 1 સેમી. ઘન(cube)નું એકંદરે પૃષ્ઠ-ક્ષેત્રફળ 6 ચોરસ સેમી. હોય છે, જ્યારે તે જ દળ ધરાવતા ઘનને  1 x 10^–6 સેમી. બાજુઓવાળા સમઘનો(cubes)માં વિભાજિત કરવામાં આવે તો 10¹⁸ સમઘનો મળે; જ્યારે એકંદર પૃષ્ઠ-ક્ષેત્રફળ 6 x 10⁶ ચોસેમી. થાય. 1 સેમીના ઘનમાં 1,00,00,000 આયનો પૈકી પૃષ્ઠ પર અસ્તિત્વ ધરાવતા આયનની સંખ્યા એક કરતાં પણ ઓછી હોય છે; જ્યારે 1 x 10^–6 સેમી.ના ઘનમાં 12 આયનોમાંથી 1 (આયન આયનિક વ્યાસ 1 x 10^–8 સેમી. ગણતાં) પૃષ્ઠ પર હોય છે.

આ કલિલી કણોનું સ્થાયિત્વ બ્રાઉનિયન ગતિ તરીકે ઓળખાતી તેમની ગતિને તેમજ કલિલી કણોના પૃષ્ઠના વીજભારિત થવાને આભારી હોય છે. કલિલી કણો દ્વારા થતું વૃત્તિક અધિશોષણ નીચેની ચાર બાબતો પર આધાર રાખે છે :

(i) પેનેથ –ફાજાન્સ –હાન નિયમ : બે અથવા વધુ પ્રકારના આયનો અધિશોષિત થવા માટે ઉપલબ્ધ હોય અને અન્ય સંજોગો સમાન હોય તો જાલકના આયનો પૈકી જે આયન સાથે ન્યૂનતમ દ્રાવ્યતા ધરાવતું સંયોજન ઉદભવે તે આયનનું વૃત્તિક અધિશોષણ થાય છે; દા. ત., AgCl પર સોડિયમ આયન કરતાં સિલ્વર આયનોનું વૃત્તિક અધિશોષણ થાય છે. તે જ પ્રમાણે AgCl નાઇટ્રેટ કરતાં સિલ્વર આયનોનું વૃત્તિક અધિશોષણ કરે છે.

(ii) સાંદ્રતા અસર : અન્ય બાબતો સમાન હોય તો જેની સાંદ્રતા વધુ હોય તે આયનનું વૃત્તિક અધિશોષણ થાય છે અને અધિશોષિત થતા આયનનો જથ્થો તેની સાંદ્રતાના સીધા અનુપાતમાં હોય છે.

(iii) આયનિક વીજભારની અસર : એકસરખા સંજોગોમાં એકવીજભારિત આયન કરતાં બહુવીજભારિત આયનનું વૃત્તિક અધિશોષણ થાય છે.

(iv) આયનનું પરિમાપ : સમાન પરિસ્થિતિમાં વિસ્થાપિત થતા જાલક-આયનને સમકક્ષ પરિમાપ ધરાવતા આયનનું વૃત્તિક અધિશોષણ થાય છે; દા. ત., બેરિયમ સલ્ફેટ પર રેડિયમ આયનનું પ્રબળ અધિશોષણ થાય છે, પરંતુ કૅલ્શિયમ સલ્ફેટ પર તેમ થતું નથી કારણ કે રેડિયમ આયનનું પરિમાપ બેરિયમ આયન જેટલું જ્યારે કૅલ્શિયમ આયન કરતાં વધુ હોય છે.

સ્કંદન (coagulation) અને પુન:કલિલીકરણ (peptization) : કલિલી કણો એકત્રિત થઈ મોટા કણોમાં ફેરવાઈ પાત્રના તળિયે બેસી જવાની પ્રવિધિને સ્કંદન કહેવામાં આવે છે. આ માટે પ્રાથમિક અધિશોષિત આયન સ્તર દ્વારા કલિલી કણોનાં વીજભારિત થયેલ પૃષ્ઠોનો વીજભાર દૂર થવો જોઈએ કે તટસ્થ થવો જોઈએ. આ વીજભારને દૂર કરવો અશક્ય છે, કારણ કે કણના પૃષ્ઠ અને પ્રાથમિક આયનિક સ્તર વચ્ચે પ્રબળ આકર્ષણ-બળ પ્રવર્તે છે. જોકે કલિલી કણો પરના એકંદર વીજભારમાં અધિશોષિત પાણીના સ્તર તેમજ અધિશોષિત આયનોના દ્વિતીય સ્તર વડે પરિવર્તન લાવી શકાય. નીચેની આકૃતિ 1 માં સિલ્વર ક્લોરાઇડના કણના પૃષ્ઠ પર એકાંતરિક સિલ્વર અને ક્લોરાઇડ આયનોની હાર દર્શાવી છે :

માતૃદ્રાવણમાં Ag⁺ આયનોની હાજરી આધિક્યમાં હોય તો આકૃતિમાં દર્શાવ્યા પ્રમાણે પ્રાથમિક સ્તર Ag⁺ આયનોનો હોય છે અને પૃષ્ઠ એકંદરે ધનવીજભારિત બને છે. પાણીના અણુઓ ધ્રુવીય હોય છે અને તેથી કણના પૃષ્ઠ પર તે અધિશોષિત થઈ શકે છે. આ ઉપરાંત આયનોનો અધિશોષિત દ્વિતીય સ્તર પણ ઉદભવી શકે. આ દ્વિતીય સ્તરને પ્રતિ-આયન (counter-ion) સ્તર કહે છે. પ્રાથમિક અધિશોષિત આયન-સ્તર દ્વારા ઉદભવતો વીજભાર જો દ્વિતીય સ્તર વડે તટસ્થિત થાય તો કણો સ્કંદિત થાય છે. આ દ્વિતીય કે પ્રતિ-આયન સ્તરનું અધિશોષણ પ્રાથમિક સ્તરના કરતાં ઘણું ઓછું વૃત્તિક હોય છે.

કલિલી કણોનું પ્રતિ-આયન અધિશોષણ વડે થતું સ્કંદન એ પ્રતિવર્તી પ્રક્રિયા છે. સ્કંદિત કણોના પુન: કલિલી કણોમાં થતા રૂપાંતરને પુન:કલિલીકરણ કહે છે. આથી સ્કંદિત અવક્ષેપને સાફ કરતી વખતે યોગ્ય દ્રાવણની પસંદગી જરૂરી છે. જો આવી કાળજી લેવામાં ન આવે તો સ્કંદિત અવક્ષેપનું પુન:કલિલીકરણ થઈ તે ફિલ્ટર-પેપરમાંથી પસાર થઈ જાય છે; દા. ત., AgClના અવક્ષેપને ધોવા માટે મંદ નાઇટ્રિક ઍસિડનો ઉપયોગ. અવક્ષેપને ગરમ કરતાં આવું વિદ્યુત-વિભાજ્ય બાષ્પશીલ બની ઊડી જાય તે ઇચ્છનીય છે.

સહઅવક્ષેપન (coprecipitation) : અદ્રાવ્ય અવક્ષેપ સાથે અન્ય દ્રાવ્ય પદાર્થના અવક્ષેપનને સહઅવક્ષેપન કહે છે. આ ઘટના ચાર પ્રકારની હોય છે :

(અ) પૃષ્ઠીય અધિશોષણ (surface adsorption) : માતૃ દ્રાવણ(mother liquor)માંથી આયનો અવક્ષેપની સપાટી પર અધિશોષિત થાય છે. આમાંનો પ્રાથમિક અધિશોષિત સ્તર ર્દઢ રીતે બદ્ધ હોય છે. આ સ્તર પર પ્રતિ-આયન (couter ion) સ્તર લાગે છે, જે ઢીલો (loose) હોય છે. આવા આયનોને કારણે અવક્ષેપ અશુદ્ધ બને છે; જેમ કે, સિલ્વર ક્લોરાઇડના અવક્ષેપ સાથે સિલ્વર નાઇટ્રેટનું સહઅવક્ષેપન. કણો કલિલીય માપના હોય (પૃષ્ઠ-ક્ષેત્રફળ વધુ હોય) ત્યારે પૃષ્ઠીય અધિશોષણ દ્વારા થતું સહઅવક્ષેપન નોંધપાત્ર બને છે. અવક્ષેપન દરમિયાન નીચે પ્રમાણે કાળજી રાખવાથી પૃષ્ઠીય અધિશોષણની માત્રા ઘટાડી શકાય છે : (i) જે દ્રાવણમાંથી અવક્ષેપ પાડવામાં આવે તેમાં અન્ય આયનોનું પ્રમાણ ઓછું રાખવામાં આવે. (ii) અવક્ષેપ મોટા સ્ફટિકો રૂપે પાડવામાં આવે. આ માટે મંદ દ્રાવણો વાપરી, દ્રાવણને હલાવતા જઈ અવક્ષેપન-પ્રવિધિ ધીમી ગતિએ કરવામાં આવે. (iii) ગરમ દ્રાવણમાંથી અવક્ષેપ પાડવામાં આવે. આને લીધે ઘટકોની દ્રાવ્યતા વધવાથી ક્ષણિક અતિસંતૃપ્તિ ઉદભવતી નથી તેમજ કલિલી કણો પણ બનતા નથી. (iv) વિજાતીય (અપ્રસ્તુત) (foreign) આયનો દ્રાવણમાં ન રાખવામાં આવે. જો હોય તો તેમને સંકીર્ણન (complexation) અથવા એવી પ્રક્રિયા દ્વારા દ્રાવ્ય સ્થિતિમાં રાખવામાં આવે. (v) ઉચ્ચ-વીજભારિત આયનો સહઅવક્ષેપિત થવાની વૃત્તિ વધુ ધરાવતા હોવાથી તે દ્રાવણમાં ન હોય તે ઇચ્છનીય છે; તેમ શક્ય ન હોય તો તેમને ઓછા વીજભારિત સ્વરૂપમાં રાખવામાં આવે, (vi) અવક્ષેપના જાલક-આયનો જેટલું પરિમાપ ધરાવતા આયનોની હાજરી દ્રાવણમાં ન હોય તે ઇચ્છનીય છે. આ માટે અવક્ષેપ એવા પ્રકારના પાડવા જોઈએ કે તેમના જાલક-આયનોનું પરિમાપ દ્રાવણમાંના અન્ય આયનો જેટલું ન હોય.

અવક્ષેપનું પક્વન (digestion) કરવાથી (મોટા સ્ફટિકો રચવાથી) પણ પૃષ્ઠીય અધિશોષણની માત્રા ઘટાડી શકાય છે.

(આ) અધિધારણ (occlusion) : સ્ફટિકની ત્વરિત વૃદ્ધિ થાય ત્યારે તેમજ સ્ફટિકોનું સંલયન (coalescence) થાય ત્યારે સ્ફટિકોનાં પોલાણોમાં કે સ્ફટિકોની ક્ષતિઓ(defects)માં થોડા પ્રમાણમાં થતા માતૃદ્રાવણના અંતર્વેશ(enclosure)ને અધિધારણ કહે છે. અવક્ષેપને ધોવાની સામાન્ય રીત વડે આ અધિધારિત દ્રવ્ય દૂર કરી શકાતું નથી. અવક્ષેપનું ઉચ્ચ તાપમાને દહન કરવામાં આવે ત્યારે સ્ફટિકમાં પ્રગૃહીત (trapped) બાષ્પશીલ દ્રાવક દૂર થાય છે, પરંતુ અબાષ્પશીલ દ્રવ્યો તો અવક્ષેપમાં જ રહી જાય છે.

અધિધારણને ન્યૂનતમ રાખવા દ્રાવણ બધા ઘટકોના સંદર્ભમાં મંદ હોવું જોઈએ કે જેથી પ્રગૃહીત માતૃદ્રાવણમાં દ્રાવ્યની હાજરી વધુ ન હોય. વળી અવક્ષેપન એવી પરિસ્થિતિમાં કરવું જોઈએ કે જેથી સ્ફટિકોની વૃદ્ધિ ઝડપી ન બને અને અવક્ષેપની દ્રાવ્યતા નોંધપાત્ર પ્રમાણમાં હોય; દા. ત., કૅલ્શિયમ ઑક્ઝેલેટના અવક્ષેપન વખતે OH^–આયનની સાંદ્રતા એવી રાખવામાં આવે કે જેથી કૅલ્શિયમ ઑક્ઝેલેટના અવક્ષેપ પડે. આમ કરવાથી અવક્ષેપનું પુન:સ્ફટિકન ઉદભવી મોટા કણો બને છે.

(ઇ) પશ્ચ–અવક્ષેપન (post-precipitation) : કૅલ્શિયમ ઑક્ઝેલેટના અવક્ષેપ ધીમી ગતિએ પડે છે અને તેથી અવક્ષેપ માતૃદ્રાવણ સાથે થોડોક સમય સંપર્કમાં રહે છે. મૅગ્નેશિયમ ઑક્ઝેલેટ અતિદ્રાવ્ય હોવાથી સામાન્ય પરિસ્થિતિમાં તેના અવક્ષેપ પડતા નથી; પરંતુ કૅલ્શિયમ ઑક્ઝેલેટના અવક્ષેપ સાથે માતૃદ્રાવણ લાંબો સમય સંપર્કમાં રહે તો કૅલ્શિયમ ઑક્ઝેલેટના પૃષ્ઠ પર ઑક્ઝેલેટ આયનોની સ્થાનીયિત સાંદ્રતા પ્રમાણમાં વધુ થતાં થોડા પ્રમાણમાં મૅગ્નેશિયમ ઑક્ઝેલેટ ઉદભવે છે.

પશ્ચ-અવક્ષેપન ટાળવા અવક્ષેપન એવી રીતે કરવામાં આવે છે કે અવક્ષેપ પડે કે તુરત તે ગાળી શકાય તેવા સ્વરૂપમાં મળે. ઘણી વાર અવક્ષેપ પડ્યા પછી તેને ગાળી, ફરી તેને દ્રાવ્ય બનાવી તેનું પુન: અવક્ષેપન કરવામાં આવે છે. કેટલીક વાર પ્રથમ અવક્ષેપ પાડ્યા પછી અવક્ષેપ ધરાવતા દ્રાવણમાં પાણી સાથે અમિશ્રણીય બાષ્પશીલ પ્રવાહી ઉમેરી અવક્ષેપના કણોને આ પ્રવાહી વડે આચ્છાદિત કરવાથી માતૃદ્રાવણ સાથે અવક્ષેપનો સંપર્ક દૂર થાય છે. અવક્ષેપનું દહન કરવામાં આવે ત્યારે આ અમિશ્રણીય પ્રવાહી ઊડી જાય છે.

(ઈ) સમાકૃતિક પ્રતિસ્થાપન (isomorphous replacement) : સ્ફટિક-જાલકમાં રહેલ આયનનું તેવા જ પરિમાપ અને આકાર ધરાવતા અન્ય આયન વડે પ્રતિ-સ્થાપન થાય એમ બની શકે છે. આને સમાકૃતિક પ્રતિસ્થાપન કહે છે. અહીં અશુદ્ધિનો સ્ફટિક-જાલકમાં સમાવેશ થયેલો હોઈ અવક્ષેપને ધોવાથી તે દૂર થઈ શકતી નથી. આવી ક્ષતિ ન સંભવે તે માટે અવક્ષેપ પાડતાં અગાઉ આવા આયનોને દ્રાવણમાંથી દૂર કરવા જોઈએ અથવા અવક્ષેપને ઓગાળી અનુકૂળ પરિસ્થિતિમાં તેનું પુન:અવક્ષેપન કરવું જોઈએ.

બેરિયમ સલ્ફેટના અવક્ષેપનું સોડિયમ અને પોટૅશિયમ આયનો વડે પ્રદૂષિત થવું તે સમાકૃતિક પ્રતિસ્થાપનનું ર્દષ્ટાંત છે. Na⁺, K⁺ અને Ba²⁺ની આયોનિક ત્રિજ્યા અનુક્રમે 0.95 x 10^–8 સેમી. 1.33 x 10^–8 સેમી. અને 1.38 x 10^–8 સેમી. છે. બેરિયમ સલ્ફેટ સાથે પોટૅશિયમ આયન નોંધપાત્ર પ્રમાણમાં સહઅવક્ષેપિત થાય છે. એક Ba²⁺ આયનનું પોટૅશિયમ આયન વડે પ્રતિસ્થાપન થાય ત્યારે સ્ફટિક-જાલકમાં વૈદ્યુત તટસ્થતા જળવાય તે માટે આનુષંગિક ફેરફારો થવા જરૂરી છે. અવકાશ(space)ને લક્ષમાં લઈએ તો જાલકમાં એકાકી Ba²⁺ના સ્થાને બે K⁺ આયનો ગોઠવાઈ શકે નહિ; પણ HSO₄^– આયન અને SO₄^2– આયન સ્થાનીય રીતે(spatially) સમાન છે, તેથી જ્યારે એક Ba²⁺નું K⁺ વડે પ્રતિસ્થાપન થાય ત્યારે સાથોસાથ SO₄^2– આયનનું HSO₄^– એનાયન વડે પ્રતિસ્થાપન થાય તો વૈદ્યુત તટસ્થતા જળવાઈ રહે. દ્રાવણનું pH મૂલ્ય 5 હોય ત્યારે K⁺ આયનનું પ્રતિસ્થાપન નહિવત્ થાય છે, કારણ કે આ મૂલ્યે HSO₄^– આયનો અસ્તિત્વ ધરાવતાં નથી; પરંતુ pH મૂલ્ય 1 હોય ત્યારે K⁺ આયનનું સહઅવક્ષેપન નોંધપાત્ર પ્રમાણમાં થાય છે. (કારણ કે, આ pH મૂલ્યે SO₄^2– આયનો મુખ્યત્વે HSO₄^– આયન-સ્વરૂપે હોય છે.) આ બાબત ઉપર્યુક્ત કાર્યરહસ્યનું સમર્થન કરે છે.

બાષ્પીકરણ પદ્ધતિઓ : બાષ્પીકરણ-આધારિત બે જાણીતી ભારાત્મક પદ્ધતિઓ પાણી અને કાર્બન ડાયૉક્સાઇડ માટે છે. કોઈ એક નમૂનામાં પાણીનું પ્રમાણ જાણવાની પ્રત્યક્ષ (direct) પદ્ધતિમાં અવક્ષેપના દહનથી ઉદભવતી બાષ્પને ઘન જલશોષક પર એકત્રિત કરી તેના વજનમાં થયેલા વધારા પરથી નમૂનામાં પાણીનું પ્રમાણ જાણી શકાય છે. પરોક્ષ-પદ્ધતિમાં નમૂનાને ગરમ કરવાથી તેના વજનમાં આવતી ઘટ પરથી નમૂનામાં પાણીનું પ્રમાણ જાણી શકાય છે. આ પદ્ધતિ સંતોષકારક નથી. તેમાં એમ ધારવામાં આવે છે કે નમૂનામાં બાષ્પશીલ ઘટક ફક્ત પાણી છે, જે ઘણી વાર સાચું હોતું નથી; તેમ છતાં વ્યાપારિક પદાર્થોમાં પાણીનું પ્રમાણ જાણવા પરોક્ષ પદ્ધતિ વ્યાપકપણે વપરાય છે; દા.ત., અર્ધસ્વયંચાલિત (semiautomated) ઉપકરણનો ઉપયોગ કરવાથી ધાન્યમાં પાણીનું પ્રમાણ જાણી શકાય છે. તુલા(balance)ના પ્લૅટફૉર્મ પર ધાન્યના 10 ગ્રા. નમૂનાને પારરક્ત દીવા વડે તપાવવામાં આવે છે. અવશેષની ટકાવારી સીધી જ આ સાધન પર નોંધાય છે.

કાર્બોનેટ સંયોજનોનું ઍસિડની હાજરીમાં વિઘટન થઈ કાર્બન ડાયૉક્સાઇડ (CO₂) ઉત્પન્ન થાય છે. દ્રાવણને ગરમ કરી તેમાંથી નીકળતા CO₂ને ઘન અવશોષક વડે અવશોષી લેવાથી ઘન અવશોષકના વજનના વધારા પરથી CO₂નું પ્રમાણ જાણી શકાય છે. આ માટે અવશોષક તરીકે ઍસ્કેરાઇટ-II (Ascarite-II)નો ઉપયોગ થાય છે. તે બિનરેસામય સિલિકેટ પર સોડિયમ હાઇડ્રૉક્સાઇડ ધરાવે છે. આ સોડિયમ હાઇડ્રૉક્સાઇડ CO₂ને શોષી લે છે.

2NaOH + CO₂ → Na₂CO₃ + H₂O

ઉદભવતી જલબાષ્પને કારણે પરિણામમાં ભૂલ આવે નહિ તે માટે અવશોષક નળીમાં જલશોષક હાજર હોવો જોઈએ.

સલ્ફાઇડ અને સલ્ફાઇટ સંયોજનોનું પણ આ રીતે વિશ્લેષણ કરી શકાય છે. આવી પદ્ધતિમાં નમૂનાની ઍસિડ સાથેની પ્રક્રિયાથી ઉદભવતા H₂S કે SO₂ યોગ્ય અવશોષકમાં ગ્રહી લેવામાં આવે છે.

કાર્બનિક સંયોજનોમાં કાર્બન અને હાઇડ્રોજનનું પ્રમાણ મેળવવાની પદ્ધતિ પણ ભારમાપક છે. તેમાં દહન – નીપજો(CO₂ અને H₂O)ને વજન કરેલ યોગ્ય અવશોષકમાં વૃત્તિક રીતે એકત્રિત કરવામાં આવે છે. વજનના વધારા પરથી કાર્બન અને હાઇડ્રોજનનું ટકાવાર પ્રમાણ જાણી શકાય છે.

કાર્બનિક પદાર્થોનું ભારાત્મક વિશ્લેષણ : અનેક પ્રક્રિયકો કાર્બનિક સંયોજનોના ક્રિયાશીલ સમૂહો સાથે વૃત્તિક રીતે પ્રક્રિયા કરી અવક્ષેપ આપે છે; આથી આવા ક્રિયાશીલ સમૂહોનું ભારમાપક વિશ્લેષણ શક્ય બને છે. ક્રિયાશીલ સમૂહો સાથે ભારાત્મક રીતે પ્રક્રિયા કરતા પ્રક્રિયકોની યાદી સારણી-1માં આપી છે :

કાર્યશીલ સમૂહ	પદ્ધતિ	પ્રક્રિયા અને વજન કરવામાં આવતી નીપજ
1	2	3
કાર્બૉનીલ	2,4,–નાઇટ્રોફિનાઇલ હાઇડ્રેઝિન વડે મળતા અવક્ષેપનું વજન	RCHO + H2NNHC6H3(NO2)2 → R–CH = NNHC6H3(NO2)2(s) + H2O (RCOR´ પણ આવી જ પ્રક્રિયા આપે છે.)
ઍરોમેટિક	230° સે. તાપમાને	ArCHO  Ar + CO2(g)
કાર્બોનીલ	ક્વિનોલિનમાં ઉદભવતા CO2નું નિસ્યંદન કરી, અવશોષી, વજન કરવું
મિથૉક્સિલ અને ઇથૉક્સિલ	CH3I કે C2H5Iના નિસ્યંદન અને વિઘટન પછી AgIનું વજન	(અ) ROCH3 + HI → ROH + CH3I RCOOCH3 + HI → RCOOH + CH3I (આ) CH3I + Ag+ + H2O → AgI(s) + CH3OH
ઍરોમેટિક નાઇટ્રો એઝો	ક્લાઈના વજનમાં આવતી ઘટ તાંબાના વજનમાં આવતી ઘટ	RNO2 + GSn(s) + 6H+ → RNH2 + 3⁄2Sn4+ 2H2O RN = NR´ + 2Cu(s) + 4H+ → RNH2 + R´NH2 + 2Cu2+
ફૉસ્ફેટ	બેરિયમ ક્ષારનું વજન
સલ્ફેમિક ઍસિડ	HNO2 વડે ઉપચયન બાદ BaSO4નું વજન	RNHSO3H + HNO2 + Ba2+ → ROH + BaSO4(s) + N2 + 2H+
સલ્ફિનિક ઍસિડ	ફેરિક સલ્ફિનેટના દહન પછી Fe2O3નું વજન	3ROSOH + Fe3+ → (ROSO)3Fe(s) + 3H+ (ROSO)3Fe  CO2 + H2O + SO2 + Fe2O3(s)

સમાંગ દ્રાવણમાંથી અવક્ષેપન : અવક્ષેપના કણનું પરિમાપ નક્કી કરવામાં નાભિકનના સમયે અને સ્થળે અતિસંતૃપ્તિ અગત્યનો ભાગ ભજવે છે. મોટા એકાકી કણો રૂપે અવક્ષેપ મળે તે માટે અતિસંતૃપ્તિની માત્રા ન્યૂનતમ હોવી જરૂરી છે. સમાંગ દ્રાવણમાંથી અવક્ષેપનની પદ્ધતિ આ માટે વિકસી છે. તેમાં અવક્ષેપક સીધો દ્રાવણમાં ઉમેરવામાં આવતો નથી, પરંતુ તે સમાંગ રાસાયણિક પ્રક્રિયા દ્વારા ધીમે ધીમે દ્રાવણમાં ઉદભવે છે. આથી અતિસંતૃપ્તિની માત્રા ઉચ્ચ બનતી નથી. જો વિશ્લેષણ માટેના દ્રાવણમાં કોઈક રાસાયણિક પ્રક્રિયા દ્વારા જરૂરી પ્રક્રિયક ધીમા વેગે ઉત્પન્ન કરી શકાય તો સમાંગ અવક્ષેપન પદ્ધતિ કોઈ પણ અવક્ષેપન માટે પ્રયુક્ત થઈ શકે. સમાંગ અવક્ષેપન માટે ઉપયોગી એવા કેટલાક પ્રક્રિયકોનાં ર્દષ્ટાંતો નીચે પ્રમાણે છે :

યુરિયા : જો કોઈ પણ પદાર્થની દ્રાવ્યતા પર pHની અસર વર્તાતી હોય તો સમાંગ અવક્ષેપન માટે યુરિયા એક ઉપયોગી પ્રક્રિયક છે. ગરમ જલીય દ્રાવણમાં તે નીચે પ્રમાણે જલવિચ્છેદન પામે છે :

CO(NH₂)₂ + H₂O → CO₂ + 2 NH₃

આપેલ દ્રાવણ પ્રારંભમાં તટસ્થ કે સહેજ ઍસિડી હોય તો ઉત્સર્જિત થતા એમોનિયા વડે દ્રાવણનું pH મૂલ્ય ક્રમશ: (સમગ્ર દ્રાવણમાં) સમાનપણે વધે છે. દ્રાવણનું pH મૂલ્ય અને તેમાં યુરિયાની સાંદ્રતા યોગ્ય મૂલ્યે રાખી દ્રાવણને જોઈતા તાપમાને ગરમ કરવાથી અંતિમ pH કોઈ પણ ઇચ્છિત મૂલ્યે મેળવી શકાય છે. ઍલ્યુમિનિયમ, આયર્ન કે ક્રોમિયમના હાઇડ્રૉક્સાઇડનું અવક્ષેપન જલીય એમોનિયા ઉમેરી કરવામાં આવે તો અવક્ષેપો મોટા કદના અને શ્લેષીય મળતા હોઈ તેમને ગાળવાનું કે સાફ કરવાનું મુશ્કેલ બને છે. સમાંગ દ્રાવણમાંથી યુરિયા વડે અવક્ષેપન કરવાથી આ મુશ્કેલીઓ દૂર થાય છે. આ રીતે ઍલ્યુમિનિયમનું જલયુક્ત ઍલ્યુમિનિયમ ઑક્સાઇડ રૂપે અવક્ષેપન કરી શકાય છે. આ અવક્ષેપના ભૌતિક ગુણધર્મો સુધારવા માટે દ્રાવણમાં અવક્ષેપન અગાઉ સક્સિનિક ઍસિડ ઉમેરવામાં આવે છે. સક્સિનેટ એનાયન અવક્ષેપમાં સમાવિષ્ટ થઈ જલયુક્ત બેઝિક ઍલ્યુમિનિયમ સક્સિનેટ ઉદભવે છે, જે સામાન્ય ઓક્સાઇડ કરતાં ઉચ્ચ ઘનતા અને સ્ફટિકતા જેવા ઇચ્છિત ભૌતિક ગુણધર્મો ધરાવે છે. અવક્ષેપનું દહન કરતાં Al₂O₃ મળે છે, જે વજન કરવા માટેનું ઉત્તમ સ્વરૂપ ધરાવે છે. કૅલ્શિયમનું ઑક્ઝેલેટ તરીકે અલગન અને નિર્ધારણ પણ આવું ઉદાહરણ છે.

સલ્ફેટ અને ફૉસ્ફેટ આયનોનું સમાંગ ઉત્સર્જન : સલ્ફેમિક ઍસિડ ધરાવતા દ્રાવણને ગરમ કરવાથી અથવા ડાઇઇથાઇલ કે ડાઇમિથાઇલ સલ્ફેટનું ધીમું જલવિચ્છેદન કરવાથી SO₄^2- આયનનું સમાંગ ઉત્સર્જન થાય છે :

HSO₃NH₂ + H₂O → H⁺ + SO₄^2- + NH₄⁺

(C₂H₅)₂SO₄ + 2H₂O → 2H⁺ + SO₄^2- + 2C₂H₅OH Ba²⁺

જેવા આયનોના અવક્ષેપન માટે તે ઉપયોગી છે.

ટ્રાઇઇથાઇલ કે ટ્રાઇમિથાઇલ ફૉસ્ફેટના જલવિચ્છેદન દ્વારા આ પ્રમાણે સમાંગીય રીતે ફૉસ્ફેટ આયનનું ઉત્સર્જન કરી શકાય છે. ઝિર્કૉનિયમ જેવાં તત્વોના અલગન માટે આ પદ્ધતિ ઉપયોગી છે.

આવી જ રીતે જે ધાતુઓના આયનો અદ્રાવ્ય સલ્ફાઇડ આપે છે તેમનું અવક્ષેપન કરવા થાયૉઍસિટેમાઇડ વપરાય છે :

CH₃CSNH₂ + H₂O → CH₃CONH₂ + H₂S

આ રીતે ઉદભવતાં અવક્ષેપ દાણાદાર હોઈ તેમને સહેલાઈથી ગાળી શકાય છે.

યોગ્ય એનાયનની હાજરીમાં કેટાયનનું ધીમી ગતિએ ઉત્સર્જન કરવા માટે પણ આવી પદ્ધતિઓ વપરાય છે. Ba²⁺ આયન અને ઇથીલિન ડાઇએમાઇનટેટ્રાઍસેટિક ઍસિડ વચ્ચે ઉદભવતા 1:1 સંકીર્ણ અને હાઇડ્રોજન પેરૉક્સાઇડ વચ્ચે થતી પ્રક્રિયામાં Ba²⁺નું સમાંગીય ઉત્સર્જન થાય છે. હાઇડ્રોજન પેરૉક્સાઇડને બદલે એમોનિયમ પરસલ્ફેટનો ઉપયોગ પણ થઈ શકે :

આમ દ્રાવણમાં Ba²⁺ અને બંનેનું સમાંગીય ઉત્સર્જન થાય છે. જોકે સ્ટ્રૉન્શિયમ અને પોટૅશિયમ આયનો આમાં અંતરાયરૂપ હોવાથી H₂O₂નો ઉપયોગ હિતાવહ છે.

ડાઇમિથાઇલ ગ્લાયૉક્ઝાઇમ (DMG) વડે Ni²⁺ને 5થી 9 pH મૂલ્યો વચ્ચે અવક્ષેપિત કરી શકાય છે. દ્રાવણમાં આ માટે DMGને સીધો ઉમેરવાને બદલે દ્રાવણમાં તેનું ઉત્સર્જન કરવા બાઇઍસિટાઇલ અને હાઇડ્રૉક્સિલ એમાઇન વચ્ચેની પ્રક્રિયાનો ઉપયોગ થાય છે (જુઓ આકૃતિ 2).

આ રીતે નિકલના અવક્ષેપ મોટા સ્ફટિકોરૂપે પ્રાપ્ત થાય છે.

પ્રચલિત (conventional) ભારમિતીય પૃથક્કરણમાં સામાન્ય રીતે નીચેના તબક્કાઓ સમાયેલા હોય છે.

વિલયન (દ્રવીકરણ) (dissolution) : નમૂનાનું વજન કરી તેને યોગ્ય દ્રાવકમાં ઓગાળવામાં આવે છે. મોટા ભાગના અકાર્બનિક પદાર્થો માટે દ્રાવક તરીકે પાણી અથવા મંદ (અકાર્બનિક) ઍસિડનો ઉપયોગ થાય છે. ક્વચિત્ સાંદ્ર ઍસિડ અથવા હાઇડ્રૉફ્લોરિક ઍસિડ પણ વપરાય છે. કેટલાંક ઉચ્ચતાપસહ (refractory) દ્રવ્યોને ઍસિડમાં દ્રાવ્ય સ્વરૂપમાં ફેરવવા માટે સંગલન(fusion)ની જરૂર પડે છે.

અવક્ષેપન : નડતરરૂપ પદાર્થોને દૂર કર્યા પછી દ્રાવણમાં યોગ્ય પ્રક્રિયક ઉમેરી ઇચ્છિત ઘટકનું અવક્ષેપન કરવામાં આવે છે. અવક્ષેપન-પ્રવિધિની યોજના અને તેની રીત એવી હોવી જોઈએ કે આગળ દર્શાવેલી ત્રણેય આવશ્યકતાઓ સંતોષાય. નમૂનામાંનો ઇચ્છિત ઘટક કયા સંયોજન રૂપે અવક્ષેપિત કરવો તે માટેના પ્રક્રિયકની પસંદગી, દ્રાવણોની સાંદ્રતા અને કદ, અન્ય ઘટકોની હાજરી અને સાંદ્રતા, દ્રાવકની પસંદગી, તાપમાન, pH મૂલ્ય, અવક્ષેપક ઉમેરવાનો વેગ, અવક્ષેપના પક્વન (digestion) માટેની રીત, અવક્ષેપના પ્રક્ષાલનની પદ્ધતિ વગેરેને અનુલક્ષીને કરવામાં આવે છે.

ત્રણેય જરૂરિયાતો પરસ્પર સંબંધિત છે અને એક જરૂરિયાતને સંતોષવા માટેના જરૂરી સંજોગો અન્ય જરૂરિયાતના તુષ્ટીકરણમાં બાધક પણ નીવડી શકે. આથી કોઈ પણ અવક્ષેપન પદ્ધતિમાં એવી રીત પસંદ કરવામાં આવે છે કે જેમાં ઉપર્યુક્ત ત્રણેય જરૂરિયાતો ઇષ્ટતમ બને.

પક્વન (digestion) : ગાળવાનું સરળ બને તે માટે અવક્ષેપના અવલંબનને ઊંચા તાપમાને એટલા સમય માટે રાખવામાં આવે છે કે જેથી અસ્ફટિકી (amorphous) કણો ગંઠાઈને અથવા નાના સ્ફટિકરૂપ કણો તેમના પરિમાપમાં વધારો કરીને મોટા બને. આ માટે વાલુકા-ઉષ્મક(sand bath)નું કે ઉષ્ણ-પ્લેટ(hot plate)નું તાપમાન એવી રીતે નિયંત્રિત કરવામાં આવે છે કે પ્રવાહીના ઉત્કલનબિંદુથી તે નીચું રહે.

ગાળણ : ગાળણની ક્રિયામાં અવક્ષેપના અવલંબનને યોગ્ય ગાળણમાધ્યમ પર રેડવામાં આવે છે. આ માટે શક્ય તેટલા વધુ અધિપ્લવી (supernatant) દ્રવ(liquid)ને ગાળણપાત્રમાંથી પસાર કરવામાં આવે છે; જ્યારે અવક્ષેપનું સ્થાનાંતરણ (transference) બને તેટલું મોડું કરવામાં આવે છે. ગાળણ માટેના સાધન તરીકે વિવિધ પ્રકારનાં ગાળણપત્રો, ગૂચ ક્રૂસિબલ (Gooch crucible), નિસાદિત કાચની ક્રૂસિબલ (sintered glass crucible) વગેરેનો ઉપયોગ થાય છે.

પ્રક્ષાલન (washing) : અવક્ષેપને સામાન્ય રીતે એવી રીતે ધોવામાં આવે છે કે તેમાંના અન્ય દ્રાવ્ય પદાર્થો દૂર થાય. અવક્ષેપનું પેપ્ટાઇઝેશન (peptization) થઈ કલિલી દ્રાવણ ન ઉદભવે તે માટે ઘણી વાર વિદ્યુતવિભાજય(electrolyte)ના જલીય દ્રાવણનો પણ ઉપયોગ થાય છે. સામાન્ય રીતે આ માટે એમોનિયમ નાઇટ્રેટને પસંદ કરવામાં આવે છે, કારણ કે અવક્ષેપનું પાછળથી જ્વલન કરવામાં આવે ત્યારે તે સહેલાઈથી દૂર થાય છે. પ્રક્ષાલન માટેના દ્રાવણના નાના નાના જથ્થાનો વધુ વાર ઉપયોગ થાય છે.

શુષ્કન (drying) અને જ્વલન (ignition) : કેટલાક પદાર્થોને સામાન્યત: નીચાં તાપમાનોએ (110 થી 275° સે.) શુષ્કન-ભઠ્ઠી(drying oven)માં તપાવવાથી તેમને અચળ (constant) વજનવાળા શુષ્ક પદાર્થ રૂપે મેળવી શકાય છે. ગાળણપત્ર ઉપર મેળવવામાં આવેલા અવક્ષેપનું સામાન્ય રીતે ઊંચા તાપમાને જ્વલન કરવામાં આવે છે. આ માટે પ્રથમ એક વજન કરેલી ક્રૂસિબલમાં અવક્ષેપ સાથેના ગાળણપત્રને મૂકી ધીમા તાપે કાગળનું દહન કરવામાં આવે છે અને પછી બર્નરની ઊંચા તાપમાનવાળી જ્યોતમાં અથવા મફલ-ભઠ્ઠી(muffle furnace)માં પ્રજ્વલિત કરવામાં આવે છે. યોગ્ય બર્નરનો ઉપયોગ કરવાથી 850°થી 1,150° સે સુધીનાં તાપમાન મેળવી શકાય છે.

શીતન (cooling) : સૂકવેલા અથવા પ્રજ્વલિત અવક્ષેપને જલશોષિત્ર(desiccator)માં ઠંડા પડવા દેવામાં આવે છે. આ જલશોષિત્ર એ ચુસ્ત ઢાંકણવાળું કાચનું પાત્ર હોય છે અને તેમાં નીચેના ભાગમાં નિર્જળ કૅલ્શિયમ ક્લોરાઇડ, સિલિકા-જેલ (gel) કે ફૉસ્ફરસ પેન્ટૉક્સાઇડ જેવા જલશોષક પદાર્થો રાખવામાં આવે છે. અવક્ષેપ (અવક્ષેપ ધરાવતા ગાળણપાત્ર કે ક્રૂસિબલ) ઠંડા પડ્યા બાદ તેમનું વજન કરવામાં આવે છે.

ગણતરી (calculations) : સામાન્ય ભારમાપક પૃથક્કરણમાં અવક્ષેપના વજન પરથી નમૂનામાં રહેલા ઇચ્છિત ઘટકના વજનની ગણતરી કરવામાં આવે છે. આ માટે ભારમિતીય અવયવ (gravimetric factor) નામના પદનો ઉપયોગ કરવામાં આવે છે. આ અવયવ એ વજન કરવામાં આવેલા પદાર્થના 1 ગ્રામમાં (અથવા સમતુલ્ય વજનમાં) ઇચ્છિત ઘટકના કેટલા ગ્રામ હશે તે દર્શાવે છે. અવક્ષેપના વજનને ભારમિતીય અવયવ વડે ગુણવાથી અવક્ષેપમાં ઇચ્છિત ઘટકનું વજન ગ્રામમાં મળે છે. આ વજનને નમૂનાના વજન વડે ભાગી, ભાગાકારને 100 વડે ગુણવાથી ઇચ્છિત ઘટકનું ટકાવાર પ્રમાણ મળે છે.

દા. ત., સિલ્વર ક્લોરાઇડમાંના ક્લોરાઇડ માટે ભારમિતીય અવયવની ગણતરી નીચે પ્રમાણે થાય :

કેટલાક ભારમિતીય અવયવો સારણી 2માં આપ્યા છે :

ભારમાપક પદ્ધતિઓની મીમાંસા : કેટલાક રસાયણવિદો હવે ભારમાપક પદ્ધતિઓની અગત્ય ઓછી આંકે છે. તેમના મત પ્રમાણે આવી પદ્ધતિઓ કાર્યક્ષમ હોતી નથી અને કાળગ્રસ્ત છે. જોકે અન્ય કેટલાક એમ માને છે કે વિશ્લેષણની અન્ય પદ્ધતિઓની માફક ભારમાપક પદ્ધતિઓ પણ સબળ અને નિર્બળ પાસાં ધરાવે છે અને અનેક પરિસ્થિતિમાં ભારમાપક પદ્ધતિઓ ઉત્તમ નીવડી છે.

(ક) વિશ્લેષણ માટે જરૂરી સમય : ભારમાપક વિશ્લેષણમાં અવક્ષેપને શુષ્ક બનાવવામાં, તેનું દહન કરવામાં, પક્વનમાં તેમજ બાષ્પનમાં સારો એવો સમય જતો હોય છે; પરંતુ આ પ્રવિધિઓમાં વિશ્લેષકે બહુ ધ્યાન રાખવું પડતું નથી. આથી એક કે બે નમૂનાનું વિશ્લેષણ કરવાનું હોય ત્યારે વિશ્લેષકે આપવો પડતો સમય કાર્યદક્ષ ગણી શકાય કારણ કે ભારમાપક પૃથક્કરણમાં અંકશોધન કે પ્રમાણીકરણની જરૂર પડતી નથી. (કૂલોમમિતિ સિવાયની અન્ય પદ્ધતિઓમાં પ્રમાણિત દ્રાવણો અને અંકશોધન-આલેખ જરૂરી છે.) આમ, નમૂનાની સંખ્યા ઓછી હોય તો નમૂનાદીઠ વિશ્લેષકનો સમય ઓછો જાય છે.

(ખ) પદ્ધતિની સંવેદનશીલતા અને ચોકસાઈ : વિશ્લેષણની અનેક પદ્ધતિઓમાં સંવેદનશીલતા (sensitivity) અને ચોકસાઈ વાપરવામાં આવતાં ઉપકરણો દ્વારા નિર્ધારિત થાય છે. ભારમાપક પૃથક્કરણમાં આવી ઊણપ કે મર્યાદા હોતી નથી. યોગ્ય તુલા વડે દ્રવ્યનું કેટલાક માઇક્રોગ્રામ સુધી વજન કરી શકાય છે. દ્રવ્યનું દળ વધુ હોય ત્યારે વજનની અનિશ્ચિતતા ઘટાડીને દર દસ લાખ ભાગે કેટલાક ભાગ સુધી તે પ્રાપ્ત થઈ શકે છે. વિશ્લેષણ માટે વપરાતાં અન્ય ઉપકરણોમાં ભાગ્યે જ આવી પરિશુદ્ધિ (precision) પ્રાપ્ત થઈ શકે છે. ભારમાપક પદ્ધતિની સંવેદનશીલતા અને ચોકસાઈ દ્રાવ્યતાને કારણે આવતી ઘટ, સહઅવક્ષેપન વગેરેને કારણે સીમિત બને છે. આથી નમૂનામાં કોઈ એક ઘટકનું પ્રમાણ 0.1 %થી ઓછું હોય ત્યારે આ પદ્ધતિનો ઉપયોગ થતો નથી. જો ઘટકનું પ્રમાણ 1 %થી વધુ હોય તો ભારમાપક પદ્ધતિની ચોકસાઈ અન્ય પદ્ધતિ કરતાં વધુ હોય છે.

(ગ) ભારમાપક પદ્ધતિની વિલક્ષણતા (specificity) : ભારમાપક પદ્ધતિમાં વપરાતા પ્રક્રિયકો ભાગ્યે જ વિશિષ્ટ હોય છે. તેઓ આયનોના સમૂહો સાથે અવક્ષેપ આપતા હોઈ તે સંદર્ભમાં વૃત્તિક છે. કોઈ એક સમૂહનો પ્રત્યેક આયન તે સમૂહના અન્ય આયનના ભારમાપક નિર્ધારણમાં અંતરાયકારક બને છે; સિવાય કે તેને અલગ કરવામાં આવે.

(ઘ) ઉપકરણો : વિશ્લેષણની અન્ય પદ્ધતિઓ કરતાં ભારમાપક પૃથક્કરણમાં વપરાતાં ઉપકરણો સાદાં અને વિશ્વસનીય હોય છે. તે મોંઘાં હોતાં નથી અને તેમની જાળવણી પણ સરળ હોય છે.

મ. ના. દેસાઈ

નિશા શાહ